熒光材料的發(fā)光機理

在高能射線的照射下，處于基態(tài)的熒光物質(zhì)分子通過吸收光線，躍遷到第一電子激發(fā)態(tài)；由于激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的，所以熒光物質(zhì)分子最終降回到基態(tài)，在降落過程中會發(fā)出一種可見光，通常把這種光稱之為熒光。當高能射線的激勵光撤去后，熒光物質(zhì)還會持續(xù)發(fā)光一段時間，這時的熒光即稱為余輝。

熒光壽命測溫原理

熒光物質(zhì)從激發(fā)態(tài)返回到基態(tài)時，放出輻射發(fā)出熒光，激勵光撤去后，熒光材料持續(xù)發(fā)光的時間，被稱為熒光衰落時間或熒光壽命，通常記作 τ。
熒光余輝的衰落直至消失是光的淬滅過程，溫度的升高使參與吸收光能的電子數(shù)增多，熒光的淬滅過程時間縮短，所以熒光物質(zhì)所處的溫度高低決定了光的淬滅過程的長短，也就是熒光壽命的長短，熒光壽命的測溫原理正是基于這種溫度相關性。

開關柜光纖測溫儀的優(yōu)點

為有效避免電力事故的發(fā)生，達到安全生產(chǎn)的工業(yè)要求，開關柜運行狀態(tài)監(jiān)測系統(tǒng)的設計要完全符合相關安全規(guī)章制度的要求，這就導致了對開關柜的研究受以下開關柜特殊性的限制：
首先，是開關柜的封閉性。開關柜空間密閉且各個隔室呈封閉狀態(tài)，一般的測量儀器很難放入其中，即使能放進去，也需要測量儀器的探頭尺寸特別小巧。 其次，是開關柜內(nèi)部強烈的電磁干擾以及惡劣的運行環(huán)境。柜內(nèi)設備長期處于高電壓大電流的運行狀態(tài)，這會導致其內(nèi)部具有強烈的電磁干擾，使得測量數(shù)據(jù)不準確，從而影響測溫裝置的可靠性。 考慮到開關柜研究的這些特殊性，福州華光天銳利用熒光光纖測溫和數(shù)據(jù)無線通信相結合的方式實現(xiàn)開關柜觸頭溫度的監(jiān)測。光纖傳輸?shù)氖枪庑盘?，不受開關柜內(nèi)電磁干擾的影響，將光纖探頭直接埋設在高壓開關柜內(nèi)觸頭上，不僅避免了無線傳感器測溫供電不易的問題，熒光測溫系統(tǒng)主機儀還具有抗電磁干擾、探頭尺寸小、可以伸到狹小空間、易于安裝、電絕緣等優(yōu)點，另外還兼具無線傳輸數(shù)據(jù)，無需人工巡檢的功能，滿足了開關柜測溫環(huán)境特殊性的要求。